当前位置: 首页 » 技术文献 » 烧结球团文献 » 综合资料 » 正文

烧结温度对高速压制制备弥散强化铜材料导电率的

放大字体  缩小字体 发布日期:2015-07-03  作者:李贺1,2) ,尹海清1) ,易善杰3) ,DilFaraz Khan1,4) ,曹慧钦1) ,张  浏览次数:268
 
核心提示:摘要:弥散强化铜材料具有高强度和高导电性的特性,孔洞是影响导电率的重要因素. 本文采用高速压制成形技术,对Al2O3质量分数为0. 9%的弥散强化铜粉压制成形,研究了压制速度对生坯的影响. 当压制速度为9. 4 m·s - 1 时得到密度为8. 46 g·cm- 3 的生坯. 研究了烧结温度对烧结所得Al2O3弥散强化铜试样导电率的影响. 当生坯密度相同时,烧结温度越高,所得试样的导电率也越高. 断口与金相分析表明: 烧结温度为950℃时,烧结不充分,颗粒边界以及孔洞多而明显,孔洞形状不规则; 烧结温度为
 
 
[ 技术文献搜索 ]  [ 加入收藏 ]  [ 告诉好友 ]  [ 打印本文 ]  [ 关闭窗口 ]

 

 

 
关于我们 联系方式 付款方式 电子期刊 会员服务 版权声明 冀ICP备13016017号-1